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超声波测厚仪基本原理
2021-06-07

超声波测厚仪基本原理

       超声波测厚仪是根据超声脉冲反射原理测得的厚度,通过测得的超声波脉冲,将测得的厚度传递给材料界面,测得的厚度则通过测得的超声波在材料中传播的时间来确定。

       超声通过一定的速度传到材料内部,利用这一原理可以对各种材料进行测量。按此原理设计的测厚仪,可对各种板材及各种加工零件进行测量,还可对生产设备中各种管道、压力容器的腐蚀减薄量进行监测。用于石油、化工、冶金、船舶、航空、航天和航天工业。

使用超声波测厚仪。

      超声波测厚仪是利用脉冲反射原理测量厚度的,测厚器发出的测厚脉冲通过测厚器到达材料界面时,超声波测厚仪通过测量测厚器穿过材料的时间确定材料厚度。它以一定的速度在物质中传播,可以用来测量各种物质。

1、应用于钢、铸铁、铝、铜等金属、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维等材料的超声良导体厚度测量。

2、双晶探针可以配置多个频率和芯片大小。

3、探针零位校正及二点校正功能,自动修正系统误差。

4、众所周知,厚度能反映速度,并能提高精确度。

5、具有提示功能的连接状态。

6、有EL背光,便于在光线较暗环境中使用。

7、具有剩余电量指示功能,可实时显示电池的剩余电量。

8、具备自动休眠,自动关机等节能功能。

9、重量轻、可靠性高,适合恶劣环境使用,抗冲击,抗电磁干扰。

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